Efinix® FPGA は、今日のテスト装置と計測機器システムに必要な性能、柔軟性、低消費電力を提供します。テスト装置および計測機器アプリケーションは、信頼性の高い性能を支えるために、正確でリアルタイムなデータを必要としています。Efinix FPGA は、高度な計測機器に必要なスピードと低レイテンシ・デザインを提供します。
自動テスト装置 (ATE) は、不良の特定、性能の検証、および大量生産における歩留まりの確保において重要な役割を果たします。ATE システムは、不良を早期に発見しつつ、生産ラインの効率を維持するために不可欠です。
Efinix FPGA は、LPDDR4/4X、MIPI D-PHY、PCIe などの多様な IP コアに加え、高性能 DSP をサポートし、これらの大量生産向けテストソリューションを実現します。
信号解析器、波形発生器、オシロスコープなどのテスト装置および計測機器は、電子システムが仕様通りに動作していることを検証するために不可欠です。
Efinix FPGA はリアルタイムのデータ取得と解析を可能にし、信号の整合性とテスト効率を向上させます。また、エンジニアが変化する要件に柔軟に対応できるよう、設定の迅速な調整を可能にし、高い信頼性と精度を実現します。
微細加工技術の縮小が続く中、原子間力顕微鏡 (AFM) は半導体業界における品質管理、故障解析、欠陥評価において最も汎用性の高いツールの一つとなっています。
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The Efinity® ソフトウェアは、RTL からビットストリームまでの完全なフローを提供します。シンプルで使いやすい GUI インターフェースと、コマンドラインスクリプトのサポートにより、Titanium、 Topaz、Trion® FPGA 用の設計を構築するためのツールが揃っています。また、当社は Efinity ソフトウェアの無償ライセンスを提供しており、人気の Sapphire RISC-V SoCを含む幅広い IP コアが利用可能です。
製造工程において、ジグは効率性、精度、そして高品質を維持するために不可欠な存在です。T55F576 は、こうした要求を満たすために最適なソリューションを提供します。
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Efinix FPGA に搭載された高性能 DSP ブロックは、オシロスコープやスペクトラムアナライザなどのテスト・測定ソリューションにおいて、信号の正確かつ効率的な取得、処理、分析、解釈に重要な役割を果たします。
Efinix FPGA は、高性能でカスタマイズ可能な Sapphire SoC Suiteをサポートしています。RISC-V プロセッサは、リアルタイムで確定的なハードウェア性能とソフトウェア制御の柔軟性を組み合わせることで、テスト装置・計測機器ソリューションの性能を向上させます。
SerDes、LVDS、PCIe、LPDDR3/4、MIPI インターフェースのサポートにより、Efinix FPGA は論理アナライザや信号発生器などのテスト・測定ソリューションにおいて、高速 ADC/DAC、デジタルバス、ホストインターフェースとの直接接続を可能にします。
Efinix FPGA は、コスト最適化と多様なデバイス・パッケージオプションを提供し、ウェハレベル CSP、LQFP、FBGA パッケージで、49ピンから1,156ピンまで対応しています。当社は、顧客の設計における FPGA のサポートを少なくとも 2045 年まで継続することを約束します。
OTDR (光時間領域反射計) 装置は、光ファイバー通信において故障の検出、損失の測定、ネットワークの健全性確認に用いられます。正確なタイミングと効率的なデータ処理が不可欠です。
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